• 広帯域の自動位相測定
• 基準プローブと測定プローブの二本を使用
• オシロスコープ（またはVNA）でFFT変換

近傍界スキャニングは、長年にわたり、強い近磁場源を特定するために使用されており、不要な放射の原因や、アンテナ構造、結合経路などを特定することを期待して使用されてきました。

局所的な磁場または電場の強さは、通常、どの放射源が良好なアンテナ構造に結合するか、または良好なアンテナ構造を形成するかを明らかにしません。このような問題は、EMC技術者の経験に委ねられています。例えば、想定していない場所での弱い125MHzの信号は、クロック上の強い125MHzの信号よりも、設計上の不具合を誘発する予兆となっている可能性があります。

あるいは、非常に局所的で強力な放出源でも、ヒートシンクのような弱く分散しているノイズ源よりも遠方界への作用は逆に低いかもしれません。EMC問題の原因を特定するために、数値シミュレーションに使用できるモデルを取得し、モジュールやICの検証に使用できるようにするためには、強力なスキャニング手法が必要です。

マクスウェルの方程式によると、ノイズ源の周りの近磁場の大きさと位相を導き出すことで、ノイズ源のモデルを再構築して放射を再現したり、あるいは遠方界への放射を再現することが可能であることが分かります。この場合の中心的な要件は、磁場の位相に関する情報です。位相とは、参照点と他のすべてのフィールドポイントとの間の位相（差）として定義されます。

位相はさまざまな方法で測定できますが、APIの位相測定技術の独自性は、広帯域かつ自動化された方法で位相を測定することにあります。

• SmartScan-PM（ソフトウエア）
• オシロスコープまたはVNA（各周波数レンジの要件を満たす）
• EMI プローブ
• コム・ジェネレータまたはシステム校正のために必要な任意のハードウエア

ローデ・シュワルツ製品のページもご覧ください

• EMIスキャン
• 位相測定
• 近傍界から遠方界への変換
• ESM ノイズ放出源顕微法
• 共振スキャン