セミナー情報
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2019年07月01日
EMC技術セミナー(名古屋/2019年08月02日開催)

【入場無料】EMC技術セミナー ~ 近傍界から遠方界へ、MST発・最新近傍界スキャニング技術 ~

位相測定、近傍界から遠方界への変換、ESD印加時の電流拡散経路の可視化

基板の高速化、高密度化に伴い、EMC対策の必要性はかつてないほど高まっています。
EMCの最先端研究で有名なミズーリ工科大学からスピンアウトしたAmber Precision Instruments社(API、本社:San Jose)は、近傍界のスキャニング技術を活かし、位相測定、近傍界から遠方界への変換シミュレーション、ESD印加時の電流拡散経路のトレースなど、ユニークな技術で車載関連企業をはじめ、海外大手企業に採用されているEMCスキャナメーカーです。

当日は実際の製品「SmartScan350」 を設置し、ハンズオンで実際に機器を操作いただきながら、最新理論と機器の両方を体験いただきます。自動車関連メーカー、車載関連メーカー、産業機器、コンシューマー・エレクトロニクスなど、さまざまな分野の皆様のご参加をお待ちしております。

入場無料(事前予約制)です。ぜひご参加ください。

開催概要

日時
名古屋:2019年08月02日(金)12:30 - 17:00
会場
名古屋会議室 名古屋駅前店」第二会議室
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3丁目23-16 4F
アクセス:JR名古屋駅 桜通口 徒歩5分
定員
20名(先着順、予約制)
参加費
無料
主催
CSi Global Alliance 株式会社
協賛
Amber Precision Instruments 社
参加条件と注意事項
  • やむなく当日欠席された場合の後日資料の発送は行っておりません。
  • 当日はアンケート用紙を配布いたします。アンケートにご協力ください。
  • 定員になり次第、締め切らせていただきます。

タイムテーブル

12:30
開場
13:00 - 13:30
主催企業挨拶
「CSi Global Alliance 株式会社 事業内容のご紹介」
13:30 - 14:30

「近傍界 EMIスキャニング ~ ノイズの根本原因を確実に特定する最新技術と方法」

Amber Precision Instruments
Principal EMC Engineer Ph.D. Hamed Kajbaf 氏

CSi Global Alliance (株) 取締役COO 松田 知樹

ノイズ探索用プローブは、電子回路基板やシステムへの放射源を特定するために従来から使用されています。しかし、EMCのエンジニアは、プローブによって識別されたホットエリアがエミッションテストの結果と必ずしも関連しないことを経験上から知っています。ノイズ放射源顕微法(ESM)スキャニング技術は、放射源を特定するための強力なツールです。この走査技術では、通常、反応性近傍界で行われる従来の近傍界スキャンとは対照的に、放射近傍界(フレネル領域)でノイズを測定します。ESMで使用されている位相測定の技術は、放射源を特定し、近傍界の測定データから基板やシステム表面まで逆算するのに用いられます。また、近傍界から遠方界への変換も、位相測定でシミュレーションすることができます。

この講演では、ESDが近傍界に及ぼす影響、および、ANSI / ESD SP 14.5-2015 によるESDの不具合の根本的な原因を特定するための近傍界スキャンの使用方法についても、あわせてご紹介します。また、IEC 61000-4-2とANSI / ESD SP 14.5-2015の間の相関関係について説明します。

14:30 - 14:45
休憩
14:45 - 15:45
SmartScan350 Liveデモンストレーション
「テストデバイスを用いた、エミッション・EMIスキャンの実演」
15:45 - 16:45
SmartScan350 Liveデモンストレーション
「テストデバイスを用いた、イミュニティ・ESDスキャンの実演」
17:00
閉会
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お問い合わせ先(フォームに記入できない場合もこちらからご連絡ください)
CSi Global Alliance(株)セミナー開催事務局 担当:松田、吉野
TEL:06-6377-2451
Mail:matsuda@csieda.co.jp