「ESD保護素子選定のポイントとテスト方法」

セムテック・ジャパン合同会社　技術統括課長　玉井 洋平 様

プロセスが微細化された高速信号ラインはESDに弱いケースが多く、ESD保護電圧（クランプ電圧）が非常に重要な選定ポイントになります。クランプ電圧の確認・検証にはTLP試験が非常に有効です。
この講演では、TLP試験の説明、TVS選定のポイントと手順、タイプ別の特性による比較などを解説いたします。

「SmartScanによるESD可視化の手法と、対策の具体事例」

パナソニック株式会社 プロダクト解析センター　政井 茂雄 様
CSi Global Alliance 株式会社

サンノゼに本社を置くAPI社のEMCロボットスキャナー「SmartScan350」は、EMCスキャニングの自動化と可視化に特化した最新型の測定装置です。TLPと近傍界プローブを使ったESD印加試験によるESD耐量可視化、電流拡散試験による電流経路の可視化の技術を、セミナーでしかご紹介できない実際の測定・対策事例を交えながら解説いたします。

「プリント基板上でのESDの振舞いと設計段階での注意点」

NECソリューションイノベータ株式会社　ソリューションビジネス事業部　シニアマネージャー　矢口 貴宏 様

電子機器開発時の困りごとの一つに静電気対策があります。
静電気の流れは見えないため、トラブルが発生すると対策に苦慮する場合が多く発生しています。そこで今回はESD可視化システムによる実測を基に、プリント基板上のESD電流の波の動き（アニメーション）を用いてESDの振舞いをご紹介いたします。
また、プリント基板のアートワークがESD耐性に大きく関与するため、アートワーク設計における注意すべき設計ポイントをご説明いたします。