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2020年05月11日
【5/22開催】 無料ウェビナー「ESD可視化による開発リードタイム削減と対策事例」のご案内
開催終了ESDによるエラー箇所をピンポイントで特定。電流経路可視化による開発リードタイム削減とESD対策の事例
最新のロボットスキャナを用いた基板のESDエラー箇所の特定手法と、電流経路可視化による不良改善と開発リードタイム削減の事例に関する60分無料ウェビナーとなっております。ぜひご参加ください。
開催概要
イミュニティ対策の中でも、ESDはEMCエンジニアの間で頭を悩ませる大きな問題となってきました。
このセミナーでは、Amber Precition Instruments 社（本社：San Jose）のSmartScanを用いたESDスキャニング手法と、電流経路の可視化による不具合箇所の特定、不良改善リードタイムの短縮実現について事例を交えてご紹介いたします。
- 日時
- 2020年5月22日（金）13:30 - 14:30（質疑応答15分含む）
- 対象
- EMCエンジニア、イミュニティエンジニア、品質管理担当者、EMC対策でお困りの方、EMC/ESD対策にご興味をお持ちの方
- 参加費
- 無料
- セミナーの内容
- ・SmartScanの機能
・TLP（Transmission Line Pulse）の波形と特性
・ESDガンとTLP測定の比較
・ESDスキャニングの方法
・電流拡散トレース試験の方法
・電流経路の可視化事例と不具合対策例
- 参加上のご注意
【オンラインセミナープラットフォームの接続確認】
ウェブセミナープラットフォームとして、Zoomを使用します。
Zoomは、参加用URLにアクセスをすると自動的にアプリのインストールが開始されます。
（アプリがインストールできない場合は、ブラウザからもアクセス可能です）
初めてご利用される場合、あらかじめ接続を確認いただくことをおすすめいたします。
- API SmartScan とは
API（Amber Precision Instruments, 本社: San Jose, CA）は、EMC分野での世界最高の教育と技術を誇るMissouri University of Science and Technology（ミズーリ工科大学）の研究から生まれた、最先端 EMI / ESD スキャン・測定・可視化装置メーカーです。
電子機器の機能の複合化、高機能化により、近年ますます電磁波・静電気による人体や周辺機器への影響、ノイズによる装置全体の誤作動の防止と問題解決が課題になっています。
APIのEMI / ESD スキャナーは、EMC対策に関して顕在化している問題と、将来の問題の両方を解決することにより、設計・開発期間の短縮とコスト削減、ノウハウの蓄積を実現します。詳しくは製品情報ページ（4/30リニューアルいたしました）をご覧ください。
- お問い合わせ先
- CSi Global Alliance 株式会社 セミナー開催事務局 担当：吉野
- TEL：06-6377-2451
- Mail：emc@csieda.co.jp