Polar Instruments PWB Interconnect solution PRODUCTS INTRODUCTION 取り扱い製品紹介

Si8000m Si9000e / Polar Instruments

PCB高周波伝送線路シミュレータ

Si8000mは、データの大容量化に伴い年々信号周波数の高速化が求められるプリント基板伝送線路の高精度なインピーダンス制御をすべての人に可能にするシミュレーションソフトです。 現在のプリント基板は相互デバイスが導通していれば良かった時代とは異なり、プリント基板自体がシステム部品としての役割を果たすべく高度な設計を求められています。
Si9000eは、Si8000mにGHz帯域での挿入損失値をシミュレーションできる機能を追加したものです。

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Si8000m Si9000e 無損失インピーダンス計算画面
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導体損失、誘電体損失、表面租化損失を分離表示 (Si9000e)
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ミックスモードSパラメータ表示 (Si9000e)

簡単操作を実現

周波数に伴い変化する複雑な伝送線路損失特性も、わかりやすいグラフで三つの要素に分離させて確認できます。 計算結果を表計算ソフト(「Excel」など)やデータベースへ容易にエクスポートすることができ、詳しく解析することも可能です。

境界要素法フィールドソルバーエンジン

実績があり信頼性の高いBEM(境界要素法)を採用し、あらゆる伝送線路パラメータに対応します。使用頻度の高い伝送線路モデルを中心に構成した130種類以上の伝送線路構造モデルで、設計者の問題解決をサポートします。

高周波特性シミュレーション

RLGCマトリクス、シングルエンド(2ポート)や差動(ミックスモード・4ポート)の伝送線路のSパラメータを抽出でき、伝送線路構造情報をすばやくグラフ化できます。
インピーダンスの周波数変化、損失(導体損失、誘電体損失、および表面租化処理による損失)インダクタンス、静電容量、抵抗、コンダクタンスおよび表皮厚なども周波数ドメインでグラフ化できます。(Si9000e)

高速かつフレキシブルな操作機能

伝送線路モデルや拡張基材データ(*1)などの要素をライブラリデータとしてシミュレーションの際に利用できるので、基板材料の周波数変化特性が、基板の信号伝送性能に及ぼす影響を検証できます。

(*1)周波数帯域によって変化するパラメータ(誘電率や損失正接)をライブラリデータとして初期設定し、周波数帯域ごとに割り当てることで、高精度の損失シミュレーションが可能になります

CITS880/CITS880S / Polar Instruments

特性インピーダンス測定システム

世界中のプリント基板メーカーに納入実績のある特性インピーダンス測定システムです。

旧モデル(CITS900s4)よりも使いやすさ、耐静電気性能、低ランニングコストをより充実させた特性インピーダンスTDR測定器です。 さらに、3重の耐静電TDRヘッド保護対策が施されていますので、長期間にわたって安心してご使用いただけます。

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包括的テストソリューション

CITS880はTDR技術を採用し高速立ちがりパルスの反射を測定し、クーポンの特性インピーダンスをタイムドメインでグラフィカルに表示し、合否の判定機能を持ちます。

広範囲な測定エリアを高精度にカバー

CITS880は、トレーサブルなNPIとNISTに認可された国際規格である高精度のエアラインによって28,50,75,100,150Ω(シングル)の広範囲に渡って校正され、幅広く高精度が保証されています。

自動化により操作性が向上

CITS880の操作は、高精度にも関わらずソフトウェアによって自動化されているため非常に簡単です。

テスト結果は毎回自動的に合否判定され、
レポートが自動作成されます。

測定範囲 20-150Ω(シングル)、40-200Ω(差動)
精度 50Ω/±1%
テスト長 最大2m
チャンネル数 2,3,4,各チャンネルタイプがあります
動作環境 Windows7(64,32bit)XP、USBインターフェイス
校正ポイント 28.50.75.100Ω

ATLAS System / Polar Instruments

PCB伝送線路挿入損失計測システム

SET2DIL / SPP / Delta-L対応

次世代高速バスの登場により、プリント基板メーカーも高周波PCB伝送線路の信号損失を制御する必要性が高まってきました。
高周波信号損失は、2GHz以下の周波数帯域で動作させるプリント基板に関して、ほとんど無視できる範囲ですが、2GHz以上の周波数帯域で動作するとなると信号損失が大きな問題となってきます。 Polar ATLASシステムは、この問題を素早く、簡単に解決する為に開発されました。

ATLAS systemとは、Tektronix社製のDSA8300サンプリングオシロスコープと80E04 TDRモジュールに、Intel社が開発したSET2DIL(Single Ended TDR to Differential Insertion Loss)法、 もう一つはIBM社が開発したSPP (Short Pulse Propagation) 法をベースとした英国Polar社製のATLAS systemを組み合わせることによって、差動挿入損失値を抽出するシステムです。

ATLAS800 静電気保護モジュール画像
ATLAS800 静電気保護モジュール

26GHz対応静電気保護モジュール

静電気保護モジュールであるATLAS800には、リレー回路をはじめとした静電気対策モジュールが組み込んであります。 ATLAS800を経由してE0804に信号を送ることで、静電気に弱いTDRモジュールを保護し故障のリスクを大幅に減らします。

損失測定画像
プローブは片手だけで使えます

基板工場内で損失測定が可能

高度な数理的処理技術を用いた事で、大掛りなプローブステーションを不要にでき、非熟練者でも簡単に損失測定ができます。 工場内で損失測定できる事によって、時間の短縮が可能になり、歩留まりを減らすことが可能になってきます。

SPP測定画像
SPPはIFN使用/不使用が選択できます

SPP測定対応

求められる場合には、IBM社が開発したSPP測定方式もオプション選択可能、要求された用途に合わせて使用する事が出来ます。標準でインピーダンスの測定も可能です。 ソフトウェアで対処した高価なIFN (Impulse forming Network)を使用しないバージョンもあります。

IST-HC / PWB Interconnect solution

インターコネクト熱衝撃試験システム

ISTとはInterconnect stress testの略で、カナダのPWB interconnect solution 社で開発された熱衝撃試験法です。弊社でテストサービスも承っております。

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IST-HC 8ポートテスター

試験時間が短い

従来のAir to Airや Liquid to liquidなどの熱衝撃試験に比べ、1回の熱サイクルにかかる時間が5分しかかからないため従来の10分の1の時間で熱衝撃試験を行うことが出来ます。

リフローはんだ試験に対応

ISTはリフローはんだシミュレーションとして高温にも対応します。
例えば 室温から265℃まで上昇させて室温まで下げるというテストも3回または6回繰り返してリフロー工程で印加される高温が基板インターコネクトへ与えるダメージを確認できます。

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IST-HC 8ポートテスター
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ISTクーポンのインターコネクトの配線と仕組み

テストの仕組み

ISTクーポンはPower回路とSense回路から成り立っていて、Power回路は電熱線のような仕組みのパターンとなっており、Sense回路は実基板の配線(インターコネクト)に準拠して作られています。

Power回路に電流を流してクーポン表面を加熱したのち空冷ファンで室温まで冷却するプロセスを繰り返すことで、基板材料を熱によって膨張収縮を繰り返させ、 Sense回路にストレスを与え、ストレスが加えられているSense回路の抵抗値変化をグラフに読み取って行くテストです。

3分加熱、2分冷却で5分間で1サイクルですのでテストは通常より劇的に早く済ませることができます。

室温25℃からTg温度以下のサイクル温度例えば160℃まで3分間で上げて、2分間で室温まで下げることを繰り返します。